本文件适用于直径大于50mm的实心瓷件、壁厚大于30mm的直筒形瓷套的超声波探伤。

本文件仅适应以A型脉冲反射式超声波

探伤仪，用接触法对瓷件进行纵向超声波探伤。

注：非直筒形瓷套超声波探伤可参照采用。

1 名词术语

本文件所用名词术语的定义除按GB2900.8─83《电工名词术语  绝缘子》规定外,尚采用以下名词术语。

1.1超声波探伤仪

利用超声波的指向性和传播规律来检查工件中存在的缺陷情况。

1.2 探伤仪的工作灵敏度

在一定条件下规定超声波探伤仪探测缺陷大小的能力。

1.3 纵波

介质质点振动方向与波的传播方向一致的波。

1.4 直探头

用于纵波探伤的探头。

1.5 水平线性

电子扫描电压与时间成正比关系的程度。

1.6 主声束

由于声源的指向特性在某一方向进行强烈的集中而形成的超声束主瓣。

1.7 晶片

探头中电声转换元件。

1.8 搜查方式

探伤时探头移动的方式。

1.9 声程

声波在工件中传播的路程。

1.10 声耦合剂

为了把从探头发射的超声波传播给工件，避免探头和工件探伤面之间造成空隙而施加的介质（如水、机油等）

1.11 底波

工件底面引起的反射波的显示讯号。

1.12 缺陷波

缺陷引起的反射波的显示讯号。

2 一般规定

2.1 超声波探伤仪的规定

超声波探伤仪应满足JB1834─76《A型脉冲反射式超声波探伤仪技术条件》的技术要求，并应满足下列要求：

a. 仪器工作频率应包括1─5ＭＨz；

b. 仪器标称探测深度应不小于被探试品的高度；

c. 具有总衰减量不小于50 dB，衰减调节精度为±1 dB以下的衰减器；

d. 当探伤仪发射功率较大,且电源电压在标称电压±10%范围内变化时，水平线性不应有明显的变化。

2.2 探头的规定

探头应满足下列要求:

a. 采用单直探头，根据需要在1─5ＭＨz 范围 内选择探头频率，推荐为1.25 或2.5ＭＨz探头。晶片直径可根据需要选择;

b. 探头发射的超声波主声束在垂直方向偏向角应不大于2°。

2.3 试品的规定

瓷件两端面的平行度和主体轴线直度应符合GB722─77《高压电瓷瓷件技术条件》的技术要求。探测面应平滑,其粗糙度应不大于10μm。

2.4 耦合剂的规定

应采用良好的声耦合剂，如水、机油等，且保持耦合剂的清洁。

3 测试要求

3.1 测试不应在有高频电磁场、强烈振动和腐蚀性气体的场所进行。

3.2 用人工标准缺陷试样来确定探伤仪的工作灵敏度。开始探伤前，均需用人工标准缺陷试样重新校准探伤仪工作灵敏度。

3.3 为了确保缺陷不漏检