X荧光光谱仪EDX660的技术参数:

1、分析范围 :30%---99.99%

2、测量时间 :60---300 秒

3、测量精度 :0.1%---99.99%

4、测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt

5、重量 :30KG

6、尺寸 :350*500*400mm

7、X射线源 :X射线光管。

8、探测器 :正比计数管

X荧光光谱仪EDX660的配置：

1、单样品腔

2、正比计数器

3、放大电路

4、高低压电源

5、X光管