X荧光光谱仪EDX3000D的特点：

1.       半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷

2.       自动滤光片选择

3.       多种准直器自动自由切换

4.       三重安全保护模式

5.       相互独立的基体效应校正模型

6.       多变量非线性回归程序

7.       样品腔自动开关

8.       软件定位样品平台，很小位移 0.01 mm

9.       自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品

10.    特别开发测量软件，操作界面十分友好

11.    内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品

X荧光光谱仪EDX3000D的技术参数：

1.       元素分析范围从硫(S)到铀(U)

2.       元素含量分析范围为1 PPm到99.99%

3.       RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限很高达1PPM；

4.       测量时间：60-200秒

5.       能量分辨率为155±5电子伏特

6.       管压：5~50KV

7.       管流：50~1000μA

8.       温度适应范围为15℃至30℃

9.       电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）

10.    三维自由度超大的样品腔设计，样品腔尺寸：Φ450 x 90 mm

11.    一次可同时分析24个元素

12.    重量：110 kg

X荧光光谱仪EDX3000D的配置

1.       移动样品平台

2.       加强金属元素感度分析器

3.       放大电路

4.       信噪比增强器（SNE）

5.       计算机、喷墨打印机